GB-T2423.1-2008 电工电子产品环境试验 试验A：低温试验方法.pdf
5 试验描述
5.1 总则
试验Ab、试验Ad和试验Ae是相似的，差异见5.2.2、5.3.2和5.4.2，从第6章开始的其他部分是这些试验共同的，试验箱内的温度变化速率不应超过1K/min（不超过5min时间的平均值）。相关规范应规定试验样品试验时的功能要求。
应注意试验样品的任何冷却装置要符合相关规范的要求。
5.2 试验 Ab：非散热试验样品温度渐变的低温试验
5.2.1 目的
本试验方法用来进行非散热试验样品的低温试验，试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定。
5.2.2 概述
将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中，然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。当试验样品温度达到稳定后，在该条件下暴露到规定的持续时间。对于试验时需要通电运行的试验样品（即使它们不属于散热试验样品），应在试验样品温度达到稳定后通电，根据需要进行功能检测。这种情况下，可能还需要一段时间达到温度稳定，然后试验样品在该低温条件下暴露到相关规范规定的持续时间。
试验样品通常在非工作状态下进行试验。本试验通常采用高气流速度循环。
5.3 试验 Ad：散热试验样品温度渐变的低温试验——试验样品在温度开始稳定后通电
5.3.1 目的
本试验方法用来进行散热试验样品的低温试验，试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定。
5.3.2 概述
如果需要，可通过试验确定试验箱能否满足低气流速度的要求。将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中，然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。
给试验样品通电或加电负载，检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求，试验样品应按照相关规范规定的工作循环和负载条件（如可行时）处于运行状态。
当试验样品的温度达到稳定后，在该条件下暴露到相关规范规定的持续时间。本试验通常采用低气流速度循环。
5.4 试验 Ae：散热试验样品温度渐变的低温试验——试验样品在整个试验过程通电
5.4.1 目的
本试验方法用来进行散热试验样品的低温试验，试验样品在低温条件下放置足够长时间以达到温度稳定，并且要求试验样品在整个试验过程中通电。5.4.2 概述
如果需要，可通过试验确定试验箱能否满足低气流速度的要求，将试验样品放入温度为试验室温度的试验箱中，给试验样品通电并根据需要进行功能检测（见5.4.3）。
然后将温度调节到符合相关规范规定的严酷等级温度。当试验样品的温度达到稳定后，在该条件下暴露到规定的持续时间。
本试验通常采用低气流速度循环.
5.4.3 给试验样品通电
然后给试验样品通电或加电负载，检查试验样品以确定其功能是否符合相关规范的要求。试验样品应按照相关规范规定的工作循环和负载条件（如可行时）处于运行状态。
